ASTM F 691-1980 测量平面度偏差用光板的制备
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 13:28:07 浏览:9768
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【英文标准名称】:PreparingPhotoplatesforMeasuringFlatnessDeviation
【原文标准名称】:测量平面度偏差用光板的制备
【标准号】:ASTMF691-1980
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1980
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:准备;板;平面度测量;偏差;电子工程;测量
【英文主题词】:deviations;electronicengineering;preparation;plates;flatnessmeasurement;measurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:G81
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:测量平面度偏差用光板的制备
【标准号】:ASTMF691-1980
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1980
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:准备;板;平面度测量;偏差;电子工程;测量
【英文主题词】:deviations;electronicengineering;preparation;plates;flatnessmeasurement;measurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:G81
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语
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